SOI基3C-SiC薄膜的光谱表征

doi:10.13883/j.issn1004-5929.201702015

光散射学报 ›› 2017, Vol. 29 ›› Issue (2) : 187-190. DOI: 10.13883/j.issn1004-5929.201702015

其他光谱技术及应用

SOI基3C-SiC薄膜的光谱表征

{{article.zuoZhe_CN}}

作者信息 +

Spectral Characterization of 3C-SiC Film Grown on SOI Substrate

{{article.zuoZhe_EN}}

Author information +

History +

本文亮点

HeighLight

摘要

Abstract

关键词

Key words

引用本文

EndNote

Ris (Procite)

Bibtex

导出引用

{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}. 2017, 29(2): 187-190 https://doi.org/10.13883/j.issn1004-5929.201702015

{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}. 2017, 29(2): 187-190 https://doi.org/10.13883/j.issn1004-5929.201702015

参考文献

原文顺序 | 文献年度倒序 | 文中引用次数倒序

参考文献

基金

版权

Accesses

Citation

Detail

段落导航

选择文件类型/文献管理软件名称

选择包含的内容

本文亮点

HeighLight

摘要

Abstract

关键词

Key words

引用本文

{{custom_sec.title}}

{{custom_sec.title}}

参考文献

参考文献

{{custom_fnGroup.title_cn}}

脚注

{{custom_ack.title_cn}}

基金

版权

Published
2017-06-30
Issue Date
2017-09-13