基于差分反射高光谱成像的薄层 TMDC材料检测技术研究
胡香敏, 刘大猛
基于差分反射高光谱成像的薄层 TMDC材料检测技术研究
Thin-layer TMDC Sample Detection Based on Reflectance Hyperspectral Imaging
{{custom_ref.label}} |
{{custom_citation.content}}
{{custom_citation.annotation}}
|
/
〈 | 〉 |