基于SAM-ED光谱匹配的绝缘子污秽类型检测方法研究

刘益岑, 刘曦, 杨琳, 林柯心, 郭裕钧, 张血琴

PDF(1502 KB)
光散射学报 ›› 2023, Vol. 35 ›› Issue (3) : 296-302. DOI: 10.13883/j.issn1004-5929.202303012

基于SAM-ED光谱匹配的绝缘子污秽类型检测方法研究

    {{javascript:window.custom_author_cn_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_CN}}
作者信息 +

Study of insulator pollution type detection method based on SAM-ED spectral matching

    {{javascript:window.custom_author_en_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_EN}}
Author information +
History +

本文亮点

{{article.keyPoints_cn}}

HeighLight

{{article.keyPoints_en}}

摘要

{{article.zhaiyao_cn}}

Abstract

{{article.zhaiyao_en}}

关键词

Key words

引用本文

EndNote

Ris (Procite)

Bibtex

导出引用
{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}. 2023, 35(3): 296-302 https://doi.org/10.13883/j.issn1004-5929.202303012
{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}. 2023, 35(3): 296-302 https://doi.org/10.13883/j.issn1004-5929.202303012

参考文献

原文顺序 | 文献年度倒序 | 文中引用次数倒序

参考文献

{{article.reference}}

基金

版权

{{article.copyrightStatement_cn}}
{{article.copyrightLicense_cn}}
PDF(1502 KB)

Accesses

Citation

Detail
段落导航
相关文章
版权所有 © 《光散射学报》编辑部
地址：四川省成都市一环路南一段24号四川大学望江校区西五教315室　
邮编：610065
电话：86-028-85418067　
传真：86-028-85418067　
E-mail：cjls@scu.edu.cn （备用：cjls@qq.com）
本系统由北京玛格泰克科技发展有限公司设计开发

/

〈 〉