基于反射变换成像技术探究姊妹线笔痕特征

孙林杰¹ , 陈维娜, 郑宇, 刘宁

PDF(1726 KB)
光散射学报 ›› 2024, Vol. 36 ›› Issue (4) : 479-488. DOI: 10.13883/j.issn1004-5929.202404014

基于反射变换成像技术探究姊妹线笔痕特征

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The characteristics of sister lines pen marks were studied based on Reflectance Transformation Imaging

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